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週三, 22 十二月 2021 15:44

DHK-CL5050

DHK-CL5050

採用獨特的照射結構,LED發出的光經過特殊光學材料均勻照射,同時採用柔性線路板以90度照射角度固定,主要應用於檢測物體需要均衡的表面照明並且要避免反光。
產品規格及應用
波長及色溫 紅色R 620nm--630nm 工作環境 溫度
濕度 		-10度--60度
白色W 6500K 20--85%(無霧化)
藍色B 465--470nm 工作環境 控制器 模擬控制器, 頻閃控制器
綠色G 525nm--530nm 數字控制器
紅外IR 850nm/940nm 應用範圍 反光物體表面檢測。
Mark點定位檢測
物體邊沿定位檢測
紫外UV 365nm/395nm
品質保證 一年亮度等級保證,兩年產品質量保證;
案例 CASE Application

硬幣輪廓檢測

使用光源:DHK-CL6060-R
同軸光均勻照射,
從圖像中可以清晰可見硬幣輪廓。

塑膠鐳射字符成像檢測

使用光源:DHK-CL5050-W
使用同軸光照射,
使得凹凸字符與背景區分明顯,易於檢測。

固晶LED基座定位

使用光源:DHK-CL4040-R
檢測基做效果圖,
清晰可見內紋理有無缺口及污點。

發佈於 同軸光源CL
來源
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週三, 22 十二月 2021 15:41

DHK-CL4040

DHK-CL4040

採用獨特的照射結構,LED發出的光經過特殊光學材料均勻照射,同時採用柔性線路板以90度照射角度固定,主要應用於檢測物體需要均衡的表面照明並且要避免反光。
產品規格及應用
波長及色溫 紅色R 620nm--630nm 工作環境 溫度
濕度 		-10度--60度
白色W 6500K 20--85%(無霧化)
藍色B 465--470nm 工作環境 控制器 模擬控制器, 頻閃控制器
綠色G 525nm--530nm 數字控制器
紅外IR 850nm/940nm 應用範圍 反光物體表面檢測。
Mark點定位檢測
物體邊沿定位檢測
紫外UV 365nm/395nm
品質保證 一年亮度等級保證,兩年產品質量保證;
案例 CASE Application

硬幣輪廓檢測

使用光源:DHK-CL6060-R
同軸光均勻照射,
從圖像中可以清晰可見硬幣輪廓。

塑膠鐳射字符成像檢測

使用光源:DHK-CL5050-W
使用同軸光照射,
使得凹凸字符與背景區分明顯,易於檢測。

固晶LED基座定位

使用光源:DHK-CL4040-R
檢測基做效果圖,
清晰可見內紋理有無缺口及污點。

發佈於 同軸光源CL
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週三, 22 十二月 2021 15:41

DHK-CL3060

DHK-CL3060

採用獨特的照射結構,LED發出的光經過特殊光學材料均勻照射,同時採用柔性線路板以90度照射角度固定,主要應用於檢測物體需要均衡的表面照明並且要避免反光。
產品規格及應用
波長及色溫 紅色R 620nm--630nm 工作環境 溫度
濕度 		-10度--60度
白色W 6500K 20--85%(無霧化)
藍色B 465--470nm 工作環境 控制器 模擬控制器, 頻閃控制器
綠色G 525nm--530nm 數字控制器
紅外IR 850nm/940nm 應用範圍 反光物體表面檢測。
Mark點定位檢測
物體邊沿定位檢測
紫外UV 365nm/395nm
品質保證 一年亮度等級保證,兩年產品質量保證;
案例 CASE Application

硬幣輪廓檢測

使用光源:DHK-CL6060-R
同軸光均勻照射,
從圖像中可以清晰可見硬幣輪廓。

塑膠鐳射字符成像檢測

使用光源:DHK-CL5050-W
使用同軸光照射,
使得凹凸字符與背景區分明顯,易於檢測。

固晶LED基座定位

使用光源:DHK-CL4040-R
檢測基做效果圖,
清晰可見內紋理有無缺口及污點。

發佈於 同軸光源CL
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週三, 22 十二月 2021 15:41

DHK-CL3030

DHK-CL3030

採用獨特的照射結構,LED發出的光經過特殊光學材料均勻照射,同時採用柔性線路板以90度照射角度固定,主要應用於檢測物體需要均衡的表面照明並且要避免反光。
產品規格及應用
波長及色溫 紅色R 620nm--630nm 工作環境 溫度
濕度 		-10度--60度
白色W 6500K 20--85%(無霧化)
藍色B 465--470nm 工作環境 控制器 模擬控制器, 頻閃控制器
綠色G 525nm--530nm 數字控制器
紅外IR 850nm/940nm 應用範圍 反光物體表面檢測。
Mark點定位檢測
物體邊沿定位檢測
紫外UV 365nm/395nm
品質保證 一年亮度等級保證,兩年產品質量保證;
案例 CASE Application

硬幣輪廓檢測

使用光源:DHK-CL6060-R
同軸光均勻照射,
從圖像中可以清晰可見硬幣輪廓。

塑膠鐳射字符成像檢測

使用光源:DHK-CL5050-W
使用同軸光照射,
使得凹凸字符與背景區分明顯,易於檢測。

固晶LED基座定位

使用光源:DHK-CL4040-R
檢測基做效果圖,
清晰可見內紋理有無缺口及污點。

發佈於 同軸光源CL
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週三, 22 十二月 2021 15:40

DHK-CL2525

DHK-CL2525

採用獨特的照射結構,LED發出的光經過特殊光學材料均勻照射,同時採用柔性線路板以90度照射角度固定,主要應用於檢測物體需要均衡的表面照明並且要避免反光。
產品規格及應用
波長及色溫 紅色R 620nm--630nm 工作環境 溫度
濕度 		-10度--60度
白色W 6500K 20--85%(無霧化)
藍色B 465--470nm 工作環境 控制器 模擬控制器, 頻閃控制器
綠色G 525nm--530nm 數字控制器
紅外IR 850nm/940nm 應用範圍 反光物體表面檢測。
Mark點定位檢測
物體邊沿定位檢測
紫外UV 365nm/395nm
品質保證 一年亮度等級保證,兩年產品質量保證;
案例 CASE Application

硬幣輪廓檢測

使用光源:DHK-CL6060-R
同軸光均勻照射,
從圖像中可以清晰可見硬幣輪廓。

塑膠鐳射字符成像檢測

使用光源:DHK-CL5050-W
使用同軸光照射,
使得凹凸字符與背景區分明顯,易於檢測。

固晶LED基座定位

使用光源:DHK-CL4040-R
檢測基做效果圖,
清晰可見內紋理有無缺口及污點。

發佈於 同軸光源CL
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週三, 22 十二月 2021 15:14

DHK-CLP100100

DHK-CLP100100

同軸平行光源採用大功率高亮LED,通過特殊聚光透鏡配光,實現光束平行的效果。能清晰地檢測反光錶面的划痕、缺口等缺陷,比普通同軸光平行性更高。
產品規格及應用
波長及色溫 紅色R 620nm--630nm 工作環境 溫度
濕度 		-10度--60度
白色W 6500K 20--85%(無霧化)
藍色B 465--470nm 工作環境 控制器 模擬控制器, 頻閃控制器
綠色G 525nm--530nm 數字控制器
紅外IR 850nm/940nm 應用範圍 金屬表面缺陷檢測。
玻璃檢測檢測
光盤划痕檢測
紫外UV 365nm/395nm
品質保證 一年亮度等級保證,兩年產品質量保證;
案例 CASE Application

字符檢測

使用光源:DHK-CLP4040-R
平行光照射下將光很好的反射
相機裡面,使字符對比明顯。

鐵片方向識別檢測

使用光源:DHK-CLP5050-W
光線極度平行照射,
檢測目標特徵清晰可見。

金屬軸缺陷檢測

使用光源:DHK-CLP5050-R
垂直照射下平整的金屬面垂直
反射到相機,效果明顯。

發佈於 平行同轴光源CLP
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週三, 22 十二月 2021 15:14

DHK-CLP7070

DHK-CLP7070

同軸平行光源採用大功率高亮LED,通過特殊聚光透鏡配光,實現光束平行的效果。能清晰地檢測反光錶面的划痕、缺口等缺陷,比普通同軸光平行性更高。
產品規格及應用
波長及色溫 紅色R 620nm--630nm 工作環境 溫度
濕度 		-10度--60度
白色W 6500K 20--85%(無霧化)
藍色B 465--470nm 工作環境 控制器 模擬控制器, 頻閃控制器
綠色G 525nm--530nm 數字控制器
紅外IR 850nm/940nm 應用範圍 金屬表面缺陷檢測。
玻璃檢測檢測
光盤划痕檢測
紫外UV 365nm/395nm
品質保證 一年亮度等級保證,兩年產品質量保證;
案例 CASE Application

字符檢測

使用光源:DHK-CLP4040-R
平行光照射下將光很好的反射
相機裡面,使字符對比明顯。

鐵片方向識別檢測

使用光源:DHK-CLP5050-W
光線極度平行照射,
檢測目標特徵清晰可見。

金屬軸缺陷檢測

使用光源:DHK-CLP5050-R
垂直照射下平整的金屬面垂直
反射到相機,效果明顯。

發佈於 平行同轴光源CLP
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週三, 22 十二月 2021 15:14

DHK-CLP5050

DHK-CLP5050

同軸平行光源採用大功率高亮LED,通過特殊聚光透鏡配光,實現光束平行的效果。能清晰地檢測反光錶面的划痕、缺口等缺陷,比普通同軸光平行性更高。
產品規格及應用
波長及色溫 紅色R 620nm--630nm 工作環境 溫度
濕度 		-10度--60度
白色W 6500K 20--85%(無霧化)
藍色B 465--470nm 工作環境 控制器 模擬控制器, 頻閃控制器
綠色G 525nm--530nm 數字控制器
紅外IR 850nm/940nm 應用範圍 金屬表面缺陷檢測。
玻璃檢測檢測
光盤划痕檢測
紫外UV 365nm/395nm
品質保證 一年亮度等級保證,兩年產品質量保證;
案例 CASE Application

字符檢測

使用光源:DHK-CLP4040-R
平行光照射下將光很好的反射
相機裡面,使字符對比明顯。

鐵片方向識別檢測

使用光源:DHK-CLP5050-W
光線極度平行照射,
檢測目標特徵清晰可見。

金屬軸缺陷檢測

使用光源:DHK-CLP5050-R
垂直照射下平整的金屬面垂直
反射到相機,效果明顯。

發佈於 平行同轴光源CLP
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週三, 22 十二月 2021 15:07

DHK-CLP4040

DHK-CLP4040

同軸平行光源採用大功率高亮LED,通過特殊聚光透鏡配光,實現光束平行的效果。能清晰地檢測反光錶面的划痕、缺口等缺陷,比普通同軸光平行性更高。
產品規格及應用
波長及色溫 紅色R 620nm--630nm 工作環境 溫度
濕度 		-10度--60度
白色W 6500K 20--85%(無霧化)
藍色B 465--470nm 工作環境 控制器 模擬控制器, 頻閃控制器
綠色G 525nm--530nm 數字控制器
紅外IR 850nm/940nm 應用範圍 金屬表面缺陷檢測。
玻璃檢測檢測
光盤划痕檢測
紫外UV 365nm/395nm
品質保證 一年亮度等級保證,兩年產品質量保證;
案例 CASE Application

字符檢測

使用光源:DHK-CLP4040-R
平行光照射下將光很好的反射
相機裡面,使字符對比明顯。

鐵片方向識別檢測

使用光源:DHK-CLP5050-W
光線極度平行照射,
檢測目標特徵清晰可見。

金屬軸缺陷檢測

使用光源:DHK-CLP5050-R
垂直照射下平整的金屬面垂直
反射到相機,效果明顯。

發佈於 平行同轴光源CLP
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週三, 22 十二月 2021 12:35

DHK-GCL100

DHK-GCL100

大功率同軸光由大功率燈珠組成,發出的光經過特殊鏡片後與cCD相機在同一軸線上,有效地應用在需要高亮的環境下,適用於線路等檢測。
產品規格及應用
波長及色溫 紅色R 620nm--630nm 工作環境 溫度
濕度 		-10度--60度
白色W 6500K 20--85%(無霧化)
藍色B 465--470nm 工作環境 控制器 模擬控制器, 頻閃控制器
綠色G 525nm--530nm 數字控制器
紅外IR 850nm/940nm 應用範圍 反光物體表面檢測
Mark點定位檢測
維碼識別飛拍
紫外UV 365nm/395nm
品質保證 一年亮度等級保證,兩年產品質量保證;
案例 CASE Application

字符檢測

使用光源:DHK-GCL4040-R
平行光照射下將光很好的反射
相機裡面,使字符對比明顯。

鐵片方向識別檢測

使用光源:DHK-GCL5050-W
光線極度平行照射,
檢測目標特徵清晰可見。

金屬軸缺陷檢測

使用光源:DHK-GCL5050-R
垂直照射下平整的金屬面垂直
反射到相機,效果明顯。

發佈於 高亮同軸光源GCL
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第 29 頁，共 126 頁