高解析同軸CLT
同軸平行光源採用大功率高亮LED,通過特殊聚光透鏡配光,實現光束平行的效果。能清晰地檢測反光錶面的划痕、缺口等缺陷,比普通同軸光平行性更高。
產品規格及應用
| 波長及色溫 |
紅色R |
620nm--630nm |
工作環境 |
溫度
濕度 |
-10度--60度 |
| 白色W |
6500K |
20--85%(無霧化) |
| 藍色B |
465--470nm |
工作環境 |
控制器 |
模擬控制器, 頻閃控制器 |
| 綠色G |
525nm--530nm |
數字控制器 |
| 紅外IR |
850nm/940nm |
應用範圍 |
金屬表面缺陷檢測。
玻璃檢測檢測
光盤划痕檢測 |
| 紫外UV |
365nm/395nm |
| 品質保證 |
一年亮度等級保證,兩年產品質量保證; |
案例 CASE Application
字符檢測
使用光源:DHK-CLP4040-R
平行光照射下將光很好的反射
相機裡面,使字符對比明顯。
鐵片方向識別檢測
使用光源:DHK-CLP5050-W
光線極度平行照射,
檢測目標特徵清晰可見。
金屬軸缺陷檢測
使用光源:DHK-CLP5050-R
垂直照射下平整的金屬面垂直
反射到相機,效果明顯。
高解析同軸
