同軸平行光源採用大功率高亮LED,通過特殊聚光透鏡配光,實現光束平行的效果。能清晰地檢測反光錶面的划痕、缺口等缺陷,比普通同軸光平行性更高。
產品規格及應用
| 波長及色溫 | 紅色R | 620nm--630nm | 工作環境 | 溫度 濕度 |
-10度--60度 |
| 白色W | 6500K | 20--85%(無霧化) | |||
| 藍色B | 465--470nm | 工作環境 | 控制器 | 模擬控制器, 頻閃控制器 | |
| 綠色G | 525nm--530nm | 數字控制器 | |||
| 紅外IR | 850nm/940nm | 應用範圍 | 金屬表面缺陷檢測。 玻璃檢測檢測 光盤划痕檢測 |
||
| 紫外UV | 365nm/395nm | ||||
| 品質保證 | 一年亮度等級保證,兩年產品質量保證; | ||||
案例 CASE Application
字符檢測
使用光源:DHK-CLP4040-R
平行光照射下將光很好的反射
相機裡面,使字符對比明顯。
平行光照射下將光很好的反射
相機裡面,使字符對比明顯。
鐵片方向識別檢測
使用光源:DHK-CLP5050-W
光線極度平行照射,
檢測目標特徵清晰可見。
光線極度平行照射,
檢測目標特徵清晰可見。
金屬軸缺陷檢測
使用光源:DHK-CLP5050-R
垂直照射下平整的金屬面垂直
反射到相機,效果明顯。
垂直照射下平整的金屬面垂直
反射到相機,效果明顯。
