平面無影光源RLE

平面無影光源RLE

平面無影光采用獨特的照射結構,從LED發出的光均勻地擴散照射,同時採用柔性線路板以度照射角度固定,經折射後低角度照射在被測物體上,以強化表面特徵(如激光浮印或蝕刻標識或提高表面缺陷的對比度。
產品規格及應用
波長及色溫 紅色R 620nm--630nm 工作環境 溫度
濕度
-10度--60度
白色W 6500K 20--85%(無霧化)
藍色B 465--470nm 工作環境 控制器 模擬控制器, 頻閃控制器
綠色G 525nm--530nm 數字控制器
紅外IR 850nm/940nm 應用範圍 檢測食品袋上日期
金屬器件邊緣檢定位,尺寸檢測。
檢測IPA精密部件外形尺寸。
紫外UV 365nm/395nm
品質保證 一年亮度等級保證,兩年產品質量保證;
案例 CASE Application

異形產品定位檢測

使用光源:DHK-RLE100-R
採用平面無影光光線均勻照射突出產品外形輪廓,清晰可見。

手機殼白邊檢測

使用光源:DHK-RLE100-R
採用平面無影光在低距離下照射使手機殼白邊清晰,提高對比度

啤酒瓶身二維碼檢測

使用光源:DHK-RLE100-B
在無影光照射下
使啤酒瓶身二維碼清晰可見。